Genauegkeet
|
Cx: ± (liesen × 1% + 1 pF)
Tgδ: ± (liesen × 1% + 0,00040) |
Anti-Interferenz
|
Variabel Frequenz Anti-Interferenz, déi uewe genannte Genauegkeet ka souguer ënner 200% Interferenz erreecht ginn.
|
Kapazitéitsberäich
|
Intern HV: 3pF~60000pF/12kV 60pF~1.2μF/0.5kV
Extern HV: 3pF~1.5μF/12kV 60pF~30μF/0.5kV Beschte Resolutioun: 0.001pF, 4 valabel Zifferen. |
tgδ Beräich
|
Onlimitéiert, 0,001% Resolutioun, automatesch Identifikatioun fir Kapazitéit, Induktioun a Resistenz vun dräi getesten Artikelen.
|
Test aktuell Beräich
|
10μA–5A
|
Intern HV |
Set Spannungsbereich: 0,5 ~ 10kV
Maximum Ausgangsstroum: 200mA Buck-Boost Method: kontinuéierlech glat Regulatioun Genauegkeet: ± (1,5% x Liesen + 10V) Volt Resolutioun: 1V |
Test Frequenz |
45 ~ 65Hz ganzer Frequenz
49/51 Hz, 45/55 Hz automatesch duebel variabel Frequenz Frequenz Genauegkeet: ± 0,01Hz |
Extern HV
|
UST, maximal Teststroum ass 5A / 40~70Hz
GST, maximal Teststroum ass 10kV/5A/40-70Hz |
CVT Self-excitation niddereg Volt Output
|
Ausgangsspannung 3~50V, Ausgangsstroum 3~30A
|
Dauer moossen
|
Ongeféier 30s, variéiert op Moossmethod
|
Input Energieversuergung
|
180V~270VAC, 50Hz/60Hz±1%, geliwwert duerch Alternéierstroum oder Generator
|
Computer Interface
|
Standard RS232 Interface
|
Dréckerspäicher
|
Gebaut-an Mikro-Dréckerspäicher
|
Operatioun Temperatur
|
-10℃–50℃
|
Relativ Fiichtegkeet
|
<90%, Net-kondenséierend
|
Allgemeng Dimensioun
|
490 × 380 × 340 mm
|
Gewiicht
|
Ongeféier 27,5 kg fir Instrument
|
1. Benotzt Frequenz Konversioun Anti-Interferenz Technologie, genee Messung souguer ënner 200% Amëschung, an d'Testdaten ass stabil, gëeegent fir op-Site Anti-Interferenz dielektresch Verloscht Test.
2. Adoptioun vu Frequenzschwiewen, digitaler Welleformanalyse, a Bréck Selbstkalibréierungstechnologien, kombinéiert mat héichpräzisen Drei-Terminal-Standardkondensatoren, garantéieren eng héichpräzis dielektresch Verloschtmessung, an d'Genauegkeet an d'Stabilitéit vun de positiven an negativen Drotmessungen sinn konsequent. D'Inputresistenz vun alle Beräicher vum Instrument ass manner wéi 2Ω, wat den Afloss vun der zousätzlech Kapazitéit vun der Testlinn eliminéiert. Et kann zu engem Ueleg Coupe fir Präzisioun dielectric Verloscht Test vun isoléierend Ueleg verbonne ginn, a kann op eng zolidd Material Mooss Elektrode fir Präzisioun dielektresch Verloscht Test vun Isoléiermaterial verbonne ginn.